DMOS transistor dope profiling and transient enhanced boron diffusion experiments

Door: Huizing, H.G.A.

❮ ❯

• ISBN: 9789090101422
• Uitgever: Universal Press, 1996
• Taal: Engels
• Categorie:
• Details: Ingenaaid, proefschrift met stellingen uitnodiging, 158p, nette staat, geen naam voorin
• Extra informatie:
• € 9.00